LED大屏幕最核心的那就數(shù)SMDLED燈珠了,在LED封裝中,銅線工藝因其降低成本而被LED顯示屏生產(chǎn)廠家和LED燈廠家研究開(kāi)發(fā),并得到眾多廠家的采納,但是實(shí)際應(yīng)用中相對(duì)金線焊接而言,銅線工藝存在著不少問(wèn)題。下面列出一些常見(jiàn)的問(wèn)題,希望能對(duì)大家有所啟發(fā)。
1) 銅線氧化,造成金球變形,影響產(chǎn)品合格率。
2) 第一焊點(diǎn)鋁層損壞,對(duì)于<1um的鋁層厚度尤其嚴(yán)重;
3)第二焊點(diǎn)缺陷, 主要是由于銅線不易與支架結(jié)合,造成的月牙裂開(kāi)或者損傷,導(dǎo)致二焊焊接不良,客戶使用過(guò)程中存在可靠性風(fēng)險(xiǎn);
4)對(duì)于很多支架, 第二焊點(diǎn)的功率,USG(超聲波)摩擦和壓力等參數(shù)需要要優(yōu)化,優(yōu)良率不容易做高;
5)做失效分析時(shí)拆封比較困難;
6)設(shè)備MTBA(小時(shí)產(chǎn)出率)會(huì)比金線工藝下降,影響產(chǎn)能;
7)操作人員和技術(shù)員的培訓(xùn)周期比較長(zhǎng),對(duì)員工的技能素質(zhì)要求相對(duì)金線焊接要高,剛開(kāi)始肯定對(duì)產(chǎn)能有影響;
8)易發(fā)生物料混淆,如果生產(chǎn)同時(shí)有金線和銅線工藝,生產(chǎn)控制一定要注意存儲(chǔ)壽命和區(qū)分物料清單,打錯(cuò)了或者氧化了線只能報(bào)廢,經(jīng)常出現(xiàn)miss operation警告,不良風(fēng)險(xiǎn)增大;
9)耗材成本增加,打銅線的劈刀壽命相比金線通常會(huì)降低一半甚至更多。同時(shí)增加了生產(chǎn)控制復(fù)雜程度和瓷嘴消耗的成本;
10)相比金線焊接,除了打火桿(EFO)外,多了forming gas(合成氣體) 保護(hù)氣輸送管,二者位置必須對(duì)準(zhǔn)。這個(gè)直接影響良率。保護(hù)氣體流量精確控制,用多了成本增加,用少了缺陷率高;
11)鋁濺出(Al Splash). 通常容易出現(xiàn)在用厚鋁層的wafer。不容易鑒定影響,不過(guò)要注意不能造成電路短路. 容易壓壞PAD或者一焊滑球。造成測(cè)試低良或者客戶抱怨;
12)打完線后出現(xiàn)氧化,沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)判斷風(fēng)險(xiǎn),容易造成接觸不良,增加不良率;
13)需要重新優(yōu)化Wire Pull,ball shear 測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)和SPC控制線,現(xiàn)階段的金線使用標(biāo)準(zhǔn)可能并不能完全適用于銅線工藝;
14)對(duì)于第一焊點(diǎn)Pad底層結(jié)構(gòu)會(huì)有一些限制,像Low-K die electric, 帶過(guò)層孔的,以及底層有電路的,都需要仔細(xì)評(píng)估風(fēng)險(xiǎn),現(xiàn)有的wafer bonding Pad design rule對(duì)于銅線工藝要做深入優(yōu)化。但是如今使用銅線的封裝廠,似乎不足以影響芯片的研發(fā);
15)來(lái)自客戶的阻力,銅線工藝對(duì)于一些對(duì)可靠性要求較高的客戶還是比較難于接受,更甚者失去客戶信任;
16)銅線工藝對(duì)于使用非綠色塑封膠(含有鹵族元素)可能存在可靠性問(wèn)題
17) pad 上如果有氟或者其他雜質(zhì)也會(huì)降低銅線的可靠性。
18)對(duì)于像Die to Die bonding 和 Reverse bonding 的評(píng)估還不完全。
以上內(nèi)容僅供參考